無錫冠亞半導(dǎo)體測試系統(tǒng)是在高溫、低溫的狀態(tài)下對各種元器件進(jìn)行測試，那么對于半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)了解清楚是很有必要的。

　　半導(dǎo)體測試系統(tǒng)由三大部分組成，包括測量與控制、調(diào)理與路由、溫度環(huán)境。半導(dǎo)體測試系統(tǒng)測量與控制部分是整個系統(tǒng)的核心，主要組成硬件有LCR表，數(shù)字萬用表，耐壓儀，漏電流測試儀、示波器、信號發(fā)生器、功率發(fā)生器、精密編程電源等儀器。所有的硬件測量與控制資源通過信號調(diào)理和大規(guī)模的矩陣路由接入溫度控制環(huán)境中，可以對各類電子元器件進(jìn)行環(huán)境溫度控制和在線測試。計(jì)算機(jī)通過顯示器、鼠標(biāo)、鍵盤實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互，并通過GPIB或RS232與LCR表、數(shù)字萬用表、信等儀器進(jìn)行通信，控制儀器實(shí)現(xiàn)各項(xiàng)測量任務(wù)。同時計(jì)算機(jī)中集成NI公司的數(shù)字I/O板卡主要用于系統(tǒng)的狀態(tài)反饋和動作控制。老化板的辨識、信號通道切換模塊的動作、報(bào)警燈和蜂鳴器等狀態(tài)指示的實(shí)現(xiàn)都是利用數(shù)字I/O板卡配合相應(yīng)的信號調(diào)理電路來完成的。

　　LCR表主要用于測量元器件的容性、感性阻抗參數(shù)，半導(dǎo)體測試系統(tǒng)主要利用四線法原理檢測電阻、電容、電感等參數(shù)，數(shù)字萬用表主要用于測量元器件的電壓和電流等參數(shù)，在半導(dǎo)體測試系統(tǒng)中主要用于檢測功率變壓器的輸入輸出電壓和電流、三端穩(wěn)壓器的輸入輸出電壓和電流，二管的正向壓降等參數(shù)。耐壓儀可以用于測量元器件的絕緣阻抗和測點(diǎn)間耐壓，本系統(tǒng)中主要用于測試?yán)^電器、變壓器等元器件觸點(diǎn)之間的絕緣阻抗和耐壓；漏電流測試儀主要用于電容的耐壓測試；號發(fā)生器和示波器主要用于元器件的輸入和輸出信號檢測，本系統(tǒng)中主要用于三端穩(wěn)壓器的輸入和輸出波形檢測，變壓器的輸出和輸出波形檢測；精密編程電源用于給元器件提供工作電壓激勵和直流電壓偏置。

　　整個半導(dǎo)體測試系統(tǒng)測量線路通過信號調(diào)理模塊和大規(guī)模矩陣系統(tǒng)進(jìn)行路由，通過多路復(fù)用開關(guān)連接測試儀表與被測元器件，這種設(shè)計(jì)既可以保證測試內(nèi)容的靈活多樣，也可以保證測量線路對不同被測件所產(chǎn)成的誤差影響小，保證多個元器件連續(xù)測試的測試一致性和高精度。

　　大家肯定也清楚，不同半導(dǎo)體測試系統(tǒng)廠家的結(jié)構(gòu)也是有所區(qū)別的，因此，大家對于半導(dǎo)體測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)構(gòu)成按照當(dāng)時設(shè)備為準(zhǔn)。（本文來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)請聯(lián)系無錫冠亞刪除，謝謝。）